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Descripción
El espectrofotómetro UV-VIS-NIR es capaz de medir una amplia gama de longitudes de onda UV-Vis y NIR. Utilizando los últimos materiales y procesos, el instrumento cuenta con un rendimiento mecánico y óptico superior, junto con circuitos de adquisición de hardware estables y precisos, alcanzando la vanguardia de productos similares. Se utiliza principalmente para medir las propiedades ópticas de los materiales de película sólida y los líquidos químicos.
Especificación
Modelo | SP-UVNIR5000TJ |
Rango de longitud de onda | 250-2500 nm (con accesorio de esfera integrante) |
Precisión de la longitud de onda | ± 0.5 nm UV/VIS; ± 2 nir nir Repetibilidad de la longitud de onda: ≤0.2nm UV/vis; ≤1nm nir |
Ancho de banda espectral | 0.2-5NM UV/VIS; 1-20NM NIR |
Precisión fotométrica | ± 0.3% |
Repetibilidad fotométrica | ≤0.2% |
Gama fotométrica | 0-3A |
Intervalos de muestreo | 0.1nm, 0.2 nm, 0.5nm, 1 nm, 2nm, 5 nm, 10 nm |
Modos de operación | Transmitancia, reflectancia, energía espectral, absorbancia |
Rejilla | 1200L/mm (UV/Vis), 300L/mm (NIR) |
Modos de medición | Transmisión, reflexión, reflexión difusa |
Receptor | PMT, PBS |
Dimensions | 700*600*260 mm |
Descripción
El espectrofotómetro UV-VIS-NIR es capaz de medir una amplia gama de longitudes de onda UV-Vis y NIR. Utilizando los últimos materiales y procesos, el instrumento cuenta con un rendimiento mecánico y óptico superior, junto con circuitos de adquisición de hardware estables y precisos, alcanzando la vanguardia de productos similares. Se utiliza principalmente para medir las propiedades ópticas de los materiales de película sólida y los líquidos químicos.
Especificación
Modelo | SP-UVNIR5000TJ |
Rango de longitud de onda | 250-2500 nm (con accesorio de esfera integrante) |
Precisión de la longitud de onda | ± 0.5 nm UV/VIS; ± 2 nir nir Repetibilidad de la longitud de onda: ≤0.2nm UV/vis; ≤1nm nir |
Ancho de banda espectral | 0.2-5NM UV/VIS; 1-20NM NIR |
Precisión fotométrica | ± 0.3% |
Repetibilidad fotométrica | ≤0.2% |
Gama fotométrica | 0-3A |
Intervalos de muestreo | 0.1nm, 0.2 nm, 0.5nm, 1 nm, 2nm, 5 nm, 10 nm |
Modos de operación | Transmitancia, reflectancia, energía espectral, absorbancia |
Rejilla | 1200L/mm (UV/Vis), 300L/mm (NIR) |
Modos de medición | Transmisión, reflexión, reflexión difusa |
Receptor | PMT, PBS |
Dimensions | 700*600*260 mm |